Regressió lineal amb errors en ambdos eixosaplicació a la calibració i a la comparació de métodes analítics

  1. Riu Rusell, Jordi
Zuzendaria:
  1. Francesc Xavier Rius Ferrus Zuzendaria

Defentsa unibertsitatea: Universitat Rovira i Virgili

Defentsa urtea: 1999

Epaimahaia:
  1. J. Smeyers-Verbeke Presidentea
  2. Itziar Ruisánchez Capelastegui Idazkaria
  3. Guillermo Ramis Ramos Kidea
  4. Luis Antonio Sarabia Peinador Kidea
  5. Luis Cuadros-Rodríguez Kidea

Mota: Tesia

Teseo: 74288 DIALNET lock_openTDX editor

Laburpena

En esta tesis se han desarrollado tests para la comparación de dos o más métodos anlíticos a múltiples niveles de concentración teniendo en cuenta los errores asociados a cada método, utilizando la técnica de regresión de mínimos cuadrados bivariantes (bivariate least squares, BLS), Estos tests también son útiles en calibración lineal, ya que diversas técnicas analíticas (como por ejemplo fluorescencia de rayos X) encuentran la recta de calibración utilizando materiales de referencia certificados del analito de interés, cada uno de los cuales con incertidumbres asociadas al valor de la concentración. De esta manera, se han desarrollado tests individuales para los coeficientes de la recta de regresión (para la detección de errores proporcionales o constantes), test conjunto par los coeficientes de la recta de regresión (para la comparación de dos o más métodos analíticos), y los intervalos de confianza en predicción, siempre basados en el método de regresión BLS, el cual considera los errores asociados a los dos ejes.