High-resolution electron microscopy study of ALMBE InAs grown on (001) GaAs substrates

  1. Molina, S.I.
  2. Aragón, G.
  3. Petford-Long, A.-K.
  4. García, R.
Zeitschrift:
Ultramicroscopy

ISSN: 0304-3991

Datum der Publikation: 1992

Ausgabe: 40

Nummer: 3

Seiten: 370-375

Art: Artikel

DOI: 10.1016/0304-3991(92)90134-6 GOOGLE SCHOLAR
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