Design of residuals in a model-based fault detection and isolation system using statistical process control techniques
- Garcia-Alvarez, D.
- Fuente, M.J.
- Sainz, G.
Actes:
IEEE International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation, ETFA
ISBN: 9781457700187
Any de publicació: 2011
Tipus: Aportació congrés
Data d'última actualització de les dades:
09-05-2024
info
Els documents de l'Observatori s'actualitzen diàriament. Aquesta data fa referència a l'actualització de la informació relacionada amb l'estructura de l'Observatori (persones, grups d'investigació, unitats organitzatives, projectes, etc.).