Design of residuals in a model-based fault detection and isolation system using statistical process control techniques
- Garcia-Alvarez, D.
- Fuente, M.J.
- Sainz, G.
Actas:
IEEE International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation, ETFA
ISBN: 9781457700187
Ano de publicación: 2011
Tipo: Achega congreso
Data da última actualización de datos:
09-05-2024
info
Os documentos do portal actualízanse diariamente. Esta data fai referencia á actualización da información relacionada coa estructura do portal (persoas, grupos de investigación, unidades organizativas, proxectos…).