Transmission electron microscopy study of InxGa1-xAs/GaAs multilayer buffer structures used as dislocation filters
- González, D.
- Araújo, D.
- Sacedón, A.
- Calleja, E.
- Molina, S.I.
- Aragón, G.
- García, R.
ISSN: 0921-5107
Año de publicación: 1994
Volumen: 28
Número: 1-3
Páginas: 515-519
Tipo: Artículo
Los documentos del portal se actualizan diariamente. Esta fecha hace referencia a la actualización de la información relacionada con la estructura del portal (personas, grupos de investigación, unidades organizativas, proyectos...).