Reordering of the ridge patterns of a stochastic electromagnetic field by diffraction due to an ideal slit

  1. Avendaño, J.
  2. De La Peña, L.
Revista:
Physical Review E - Statistical, Nonlinear, and Soft Matter Physics

ISSN: 1539-3755,  1550-2376

Año de publicación: 2005

Volumen: 72

Número: 6

Tipo: Artículo

DOI: 10.1103/PHYSREVE.72.066605 GOOGLE SCHOLAR
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