A study of the defect structure in GaAs layers grown at low and high temperatures on Si(001) substrates

  1. Aragón, G.
  2. Molina, S.I.
  3. Pacheco, F.J.
  4. González, Y.
  5. González, L.
  6. Briones, F.
  7. García, R.
Revista:
Materials Science and Engineering B

ISSN: 0921-5107

Año de publicación: 1994

Volumen: 28

Número: 1-3

Páginas: 196-199

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/0921-5107(94)90046-9 GOOGLE SCHOLAR
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